2024年1月16日，杭州世德云测科技有限公司（以下简称“世德云测”）开业仪式隆重举行。
浙江大学微纳电子学院教授、浙江省半导体行业协会秘书长丁勇，复旦大学微电子学院教授薛晓勇、宁波大学教授张跃军、西安电子科技大学教授陈冰，世德云测总经理方盼，以及其他合作伙伴共同莅临现场，见证世德云测这一里程碑时刻，共贺开业之喜。
世德云测是一家专业从事集成电路芯片CP、FT测试设备与解决方案的提供商。公司团队拥有近二十年行业资深背景，与知名高校和科研院所展开产学研合作交流，致力于建立完善的双向交流机制，深耕中国制造。
目前，世德云测产品解决方案包括：集成电路芯片的CP、FT整套测试解决方案；NOR/NAND FLASH、eMMC等测试解决方案；DDR2/3/4、LPDDR、SSD测试解决方案；MEMS、MOS、IPM、IGBT类IC测试解决方案；数字类IC、模拟类IC、MCU类等整套测试解决方案。
未来，世德云测将依托团队十余年的技术与市场沉淀，联合相关高校、科研院所、测试企业，共同聚焦高端存储器测试，致力于解决中高端器存储测试卡脖子问题，推进存储器测试国产化！
