SET-50S NAND FLASH测试仪

SET-50S是一款针对 NAND FLASH的专用高速测试/编程器，功能全面，可实现性能分析及芯片功能验证，最高支持256Site并行测试。

实现对NAND FLASH类IC的测试/烧录、性能分析等；
专用Windows系统软件，操作方便灵活，支持WIN7/IN1O；
支持二次开发SDK,Datalog,report,连接MES等功能；
具有DC/AC功能参数测试，可自定义设置；
支持最大128Gbit大容量存储芯片测试/编程；
标准通讯接口,连接自动化量产,可多台并联；
可设置不同的分BIN输出，支持联机或脱机模式；
协议接口：USB2.0协议,TYPE-C接口；
并测支持：4Site/16site可选，最大支持到256Site；