SYT-M系列先进存储芯片测试系统

自在研发核心技术
已申报多项国内外专利,技术经过产业化验证
掌握核心高频信号产生、降噪、同步匹配及系统校准技术

技术指标领先国际
可测芯片容量>256 GB
并测支持> 8096 site
测试速度> 800Mbps
测试类型:Flash、DRAM、FRAM、MRAM等

供应链安全自主可控
核心零部件自主研发
安全可靠、自主可控的配套供应链