全新设计
一体化设计方案；
完善的控制测试系统；
支持多种不同封装IC的生产需求;
测试能力
支持电压：1.5~5.5V；
可同时支持16-64Site并测；
支持工作频率≦200MHz；
针对Flash类IC测试功能全面；
多种功能
具有双温/三温环境测试能力；
腔体式温控设计架构；
支持温度曲线ATE性能监控测试；
高性价比
可进行在线老化系统ATE测试；
可连接MES系统实现批量生产；
程序软件二次开发功能；
综合Flash测试平台SET-S1
- 内置SET系列专用芯片测试仪；
- 灵活集成芯片测试仪；
- 提供各类测试环境；
- 实现自动化量产测试；
- 满足客户多元化需求。
