测试平台

全新设计 一体化设计方案；完善的控制测试系统；支持多种不同封装IC的生产需求; 测试能力 支持电压：1.5~5.5V；可同时支持16-64Site并测；支持工作频率≦200MHz；针对Flash类IC测试功能全面； 多种功能 具有双温/三温环境测试能力；腔体式温控设计架构；支持温度曲线ATE性能监控测试； 高性价比 可进行在线老化系统ATE测试；可连接MES系统实现批量生产；程序软件二次开发功能；